Венкатешварлу P., Сингх N.N., Рао K.S., и Кришнан N.M.A. «Влияние заряда на частицы почвы при сканирующей электронной микроскопии (СЭМ)». Eurasian Journal of Applied Engineering and Technology (EJAET) 145, no. 4 (декабрь 30, 2023): 58–66. просмотрено октябрь 16, 2026. https://ejaet.enu.kz/index.php/main/article/view/475.