Венкатешварлу P., Сингх N., Рао K., и Кришнан N. «Влияние заряда на частицы почвы при сканирующей электронной микроскопии (СЭМ)». Eurasian Journal of Applied Engineering and Technology (EJAET), т. 145, вып. 4, декабрь 2023 г., сс. 58-66, doi:10.32523/2616-7263-2023-145-4-58-66.