Венкатешварлу P., Сингх N., Рао K. и Кришнан N. (2023) «Влияние заряда на частицы почвы при сканирующей электронной микроскопии (СЭМ)», Eurasian Journal of Applied Engineering and Technology (EJAET), 145(4), сс. 58–66. doi: 10.32523/2616-7263-2023-145-4-58-66.