Венкатешварлу P., Сингх N., Рао K. и Кришнан N. 2023. Влияние заряда на частицы почвы при сканирующей электронной микроскопии (СЭМ). Eurasian Journal of Applied Engineering and Technology (EJAET). 145, 4 (дек. 2023), 58–66. DOI:https://doi.org/10.32523/2616-7263-2023-145-4-58-66.